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          • 可检测单线态氧(活性氧)
          • 可以立即测量优良量子效率(优良量子产率)。与粉末、溶液、固体(薄膜)和薄膜样品兼容。低杂散光多通道光谱检测器大大减少了紫外区的杂散光。此外,通过采用积分半球单元,可以实现明亮的光学系统,并通过利用这一点重新激发荧光校正,可以进行高精度的测量。此外,QE-2100 能够测量量子效率的温度依赖性,并支持从紫外到近红外的宽波长范围。
          • ELSZneo通过光散射评估物理特性     进入新阶段]这是 ELSZ 系列的*高型号,可测量稀溶液至浓溶液中的 zeta 电位和粒径以及分子量。作为一项新功能,我们采用了多角度测量来提高粒度分布的分离能力。它还支持粒子浓度测量、微流变学测量和凝胶网络分析。 新型 zeta 电位板单元具有新开发的高盐浓度涂层,可在生理盐水等高盐浓度环境中进行测量。我们还有一系列超痕量细胞单元,可以测量 3 μL 的粒径,扩展了生命科学领域的可能性。
          • 除了常规的zeta电位和粒度测量之外,它是一种可以用稀到浓溶液测量分子量的设备。 支持粒度测量范围(0.6 nm 至 10 μm)和浓度范围(0.00001% 至 40%)??梢允褂?小容量为 130 μL 或更大的一次性电池进行测量,通过实际测量电渗流,可以实现高精度的 zeta 电位测量。 此外,通过在 0 至 90°C 的宽温度范围内自动进行温度梯度测量,可以进行变性/相变温度分析。
          • 日本大冢高感度分光放射亮度仪HS-1000 日本大冢高感度分光放射亮度仪HS-1000 日本大冢高感度分光放射亮度仪HS-1000
          • 日本大冢高速配光测量系统GP-7 日本大冢高速配光测量系统GP-7 日本大冢高速配光测量系统GP-7
          • 日本大冢分光配光测量系统GP-4000 日本大冢分光配光测量系统GP-4000 日本大冢分光配光测量系统GP-4000
          • 日本大冢分光配光测量系统GP-2000 日本大冢分光配光测量系统GP-2000 日本大冢分光配光测量系统GP-2000
          • 日本大冢分光配光测量系统GP-1100 日本大冢分光配光测量系统GP-1100 日本大冢分光配光测量系统GP-1100
          • 日本大冢分光配光测量系统GP-500 日本大冢分光配光测量系统GP-500 日本大冢分光配光测量系统GP-500
          • 日本大冢高速LED光学特性仪 LE-SERIES-LE-5400 日本大冢高速LED光学特性仪 LE-SERIES-LE-5400 日本大冢高速LED光学特性仪 LE-SERIES-LE-5400
          • 日本大冢全光束测量系统 HM-SERIES 日本大冢全光束测量系统 HM-SERIES 日本大冢全光束测量系统 HM-SERIES
          • 日本大冢全光束测量系统 FM-SERIES 日本大冢全光束测量系统 FM-SERIES 日本大冢全光束测量系统 FM-SERIES
          • 日本大冢高速近场配光测量系统RH50 日本大冢高速近场配光测量系统RH50 日本大冢高速近场配光测量系统RH50
          • 日本大冢高速近场配光测量系统RH1000 日本大冢高速近场配光测量系统RH1000 日本大冢高速近场配光测量系统RH1000
          • 日本大冢高速近场配光测量系统RH600 日本大冢高速近场配光测量系统RH600 日本大冢高速近场配光测量系统RH600
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